絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
產(chǎn)品概述
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。
同樣,由測微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化,通過公式計算得到介電常數(shù)。
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:
50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:
1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍:
40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:
±1%±1pF
Q表殘余電感值:
約20nH
高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
工作頻率范圍是10kHz~160MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。
裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸:
Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:
0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性:
0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:
±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:
25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:
≤2.5×10-4
以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號源,頻率達60MHz/160MHz,信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點,更保證了測量精度的精確性。A主電容調(diào)節(jié)用傳感器感應(yīng),電容讀數(shù)精確,且頻率值可設(shè)置。C主電容調(diào)節(jié)用步進馬達控制,電容讀數(shù)更加精確,頻率值和電容值均可設(shè)置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數(shù)字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點,都能直接讀出電感、電容值,大大擴展了電感的測量范圍,而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。A/C*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能,能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點,自動讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動或自動轉(zhuǎn)換。