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絕緣材料擊穿強度試驗儀/介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

型 號BDJC-50KV

更新時間2023-08-05

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:滿足標(biāo)準(zhǔn):GB1408-2006 、 GB/T3333 、 HG/T 3330、 GB12656 、ASTM D149 固體電絕緣材料在工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強度的試驗方法.

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀
它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

產(chǎn)品概述

介電強度擊穿電壓試驗儀,擊穿強度試驗儀, 電壓擊穿試驗儀, 絕緣材料擊穿電壓試驗儀,耐電壓擊穿強度試驗儀  介電擊穿強度試驗儀,耐電壓強度試驗儀  
產(chǎn)品名稱:電壓擊穿試驗儀 
產(chǎn)品型號:BDJC-50KV
控制方式:微機控制
滿足標(biāo)準(zhǔn):GB1408-2006 、 GB/T3333 、 HG/T 3330、 GB12656 、ASTM D149 固體電絕緣材料在工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強度的試驗方法.
一、電壓擊穿試驗儀 ,適用范圍及功能
電壓擊穿試驗儀, 主要適用于固體絕緣材料(如:塑料、橡膠、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì))在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷旱臏y試。
二、電壓擊穿試驗儀 ,技術(shù)要求:

01、輸入電壓: 交流 220 V
02、輸出電壓: 交流 0--50 KV ; 
               直流 0—50 KV
03、電器容量: 3KVA
04、高壓分級: 0-10KV,0--50KV,
05、升壓速率:
 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S  3000V/S 等
              (備注:滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率)
06、試驗方式:
           直流試驗:1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗 
           交流試驗:1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗
07、電壓擊穿試驗儀 ,試驗介質(zhì):空氣,試驗油
08、安裝靈敏度較高的過電流保護(hù)裝置保證試樣擊穿時在0.05S內(nèi)切斷電源。
09、采用智能集成電路進(jìn)行勻速升壓。
10、支持短時間內(nèi)短路試驗要求。
11、電壓試驗精度: ≤ 1%。
12、試驗電壓連續(xù)可調(diào): 0--50KV。
13、電流可采集到m*。
14、出具*計量單位校準(zhǔn)檢定證書或出具客戶計量單位的證書。
15、電源:220V±10%的單相交流電壓和50Hz±1%的頻率。
16、電流電壓穩(wěn)定度: 外界電源電壓波動10%時

電壓擊穿試驗儀常規(guī)型號為:

  BDJC-10KV  BDJC-20KV  BDJC-30KV   BDJC-50KV  BDJC-100KV 

 

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀   介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 

c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz~60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理,以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值,電感量和分布電容量;電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗(tanδ)和介電常數(shù)(ε),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等進(jìn)行測試。本Q表依照國家計量檢定規(guī)程:“JJF1073-2000高頻Q表校準(zhǔn)規(guī)范”執(zhí)行。

 

1 特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感,保證高頻時直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置,能提高批量測試的可靠性和速度。

 

2 主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 測試信號頻率范圍:1kHz~70MHz,數(shù)字合成,可數(shù)字設(shè)置或連續(xù)調(diào)節(jié),五位有效數(shù)顯。
2.2 Q值測量范圍:1~1000四位數(shù)顯,分辨率0.1Q。分100、316、999三檔,量程可自動切換。
2.3 Q值固有誤差:±5%±3% 滿刻度值。
2.4 有效電感測量范圍:0.1µH~1000mH。
2.5 電感測量誤差:≤5%±0.02µH
2.6 調(diào)諧電容特性:
2.6.1可調(diào)電容范圍:40pF~500 pF。
2.6.2 精確度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微調(diào)電容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4殘余電感值:約30nH。
2.7 Q預(yù)置功能:Q預(yù)置范圍:1~1000均可。被測件達(dá)到預(yù)置值后有“GO”顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量:415×180×170(mm),6.5kg。

BH916 介質(zhì)損耗測試裝置(數(shù)顯)

 

   BH916D介質(zhì)損耗測試裝置與C類Q表及電感器配用,能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
  本測試裝置是由測微平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣,由平板電容器的刻度讀數(shù)變化,通過公式計算得到介電常數(shù)。

1工作特性
1.1 平板電容器:
1.1.1 極片尺寸:
  WY916D-38:Φ38mm.
  WY916D-50:Φ50mm. 
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率:
  ≥8mm, ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距:
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)

線圈號 測試頻率         Q值   分布電容p     電感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

 

標(biāo)簽:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 介電常數(shù)測試儀 介質(zhì)損耗測試儀  介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀

 

 

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