新型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)品概述
介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀由Q表、測(cè)試裝置,電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz~60MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。
2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
2 主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 測(cè)試信號(hào)頻率范圍:10kHz~60MHz,數(shù)字合成,可數(shù)字設(shè)置或連續(xù)調(diào)節(jié),五位有效數(shù)顯。
2.2 Q值測(cè)量范圍:1~1000四位數(shù)顯,分辨率0.1Q。分100、316、999三檔,量程可自動(dòng)切換。
2.3 Q值固有誤差:±5%±3% 滿(mǎn)刻度值。
2.4 有效電感測(cè)量范圍:0.1µH~1000mH。
2.5 電感測(cè)量誤差:≤5%±0.02µH
2.6 調(diào)諧電容特性:
2.6.1可調(diào)電容范圍:40pF~500 pF。
2.6.2 精確度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微調(diào)電容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4殘余電感值:約30nH。
2.7 Q預(yù)置功能:Q預(yù)置范圍:1~1000均可。
1工作特性
1.1 平板電容器:
1.1.1 極片尺寸:
c類(lèi)-38:Φ38mm.
c類(lèi)-50:Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率:
≥8mm, ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距:
25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
≤2.5×10-4
附表二,LKI-1電感組典型測(cè)試數(shù)據(jù)
線圈號(hào) 測(cè)試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
標(biāo)簽:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 介電常數(shù)測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)試儀 介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀