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四探針低電阻率測試儀

型 號BEST-300C

更新時間2023-08-10

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:四探針低電阻率測試儀硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等.

產(chǎn)品概述

 四探針低電阻率測試儀功能概述Overview:

  1. 可以測試到1uΩ方阻值

  2. 恒流輸出

  3. 液晶顯示

  4. 自動數(shù)據(jù)測量

  5. 雙電組合測試方法.

  6. 提供中文或英文語言版本.

  7. PC軟件運(yùn)行.

四探針低電阻率測試儀

適用范圍Widely used:

  1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

  2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,

  3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,

  4.抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

步驟及流程

  1. 開啟電源,預(yù)熱5分鐘.

  2. 裝配好探頭和測試平臺.

  3. 設(shè)定所需參數(shù).

  4. 測量樣品

  5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

  優(yōu)點(diǎn)描述:

  1. 自動量程

  2. 準(zhǔn)確穩(wěn)定性.

  3. 雙電組合測試方法

  4. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

  5. PC軟件運(yùn)行

  6. 同時顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

  7. 可顯示5位數(shù)字.

  8. 中、英文界面

1.方塊電阻范圍: 10-6~2×105Ω/□

2.電阻率范圍: 10-7~2×105Ω-cm

3.測試電流范圍: 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

4.電流精度: ±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度: ≤0.3%

6.PC軟件界面: 電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、

探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)

7.測試方式: 四探針測量(體電阻率)和四端法(接觸電阻測量)

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